Google工程师Raghav Lagisetty、Arif Merchant和加拿大多伦多大学教授Bianca Schroeder联合发表了一篇论文《闪存的实际可靠性：意料之中与意料之外》(Flash Reliability in Production: The Expected and the Unexpected)，得出了一些惊人的结论。
这项研究历时长达6年，覆盖了十多种SSD的品牌，企业级和消费级产品都有，SLC、MLC、TLC三种闪存类型都有，加起来一共跑了几百万天。
主要结论：
1、不可纠正比特错误率(UBER)这个参数毫无意义，不要理会它。
2、好消息：原始比特错误率(RBER)在使用损耗中的增长速度比预期得要慢，而且与UBER后者其他错误无关。
3、高端的SLC硬盘并不比MLC硬盘更可靠。
4、坏消息：SSD的故障失败率比机械硬盘低，但是UBER更高。
5、影响SSD可靠性的是其年龄，而不是使用程度。简单地说，一块闲置了两年的SSD还不如一块使用了一年的更靠谱。
6、全新的SSD里也会普遍有坏块。如果一块SSD里有大量坏块，可能会影响其他更多区块，导致芯片损坏。
7、30-80％ SSD起初就有至少一个坏块，2-7％使用四年后会有至少一个芯片损坏。
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